一文为大家介绍远红外热成像仪的不同测量方法

　　远红外热成像仪是由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成，光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件及其位置确定。红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路，并按照仪器内疗的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。

　　下面小编要为您介绍的是远红外热成像仪的不同测量方法：

　　1、全辐射测温法

　　根据测量波长从零到无限大整个光谱范围物体的总辐射功率用黑体定标的仪器来确定物体的温度。其总辐射功率的大小与被测对象温度之间的关系是由斯蒂芬-玻尔兹曼定律来描述。

　　2、多波段测温法

　　依次取多个波段，通过计算这些波段辐射功率之间的复杂关系来确定物体的温度。

　　3、双波段测温法

　　根据测量两个给定波长K1和K2的辐射功率之比，用黑体定标的仪器来确定物体的温度，适合测量发射率变化或未知的物体，但只适合于测量辐射能量密度大的高温物体。这3种方法均由普朗克定律来描述。

　　4、亮度测温法

　　根据测量给定波长K0附近一窄光谱范围的辐射用黑体定标的仪器来确定物体的温度，适用于高温测量。

　　5、大波长测温法

　　由维恩位移定律，黑体辐射峰值波长Kmax与温度T之积为一常数，通过测量峰值波长Kmax来计算温度T。此法常用测量*温(大于2000°C)。由此可见，非接触红外测温有以下的缺点：测得的温度值是测量对象的表面温度，且必须用发射率进行修正，增加了测量的复杂性；周围介质的影响引起测量误差。

　　希望上述内容能够帮助大家更好的了解本仪器，同时也欢迎大家持续关注本站，小编会定期为大家带来更多的相关产品知识介绍。